同惠TH513半導體C-V特性分析儀參數測試儀 參考價：面議
同惠TH513半導體C-V特性分析儀參數測試儀是常州同惠電子根據當前半導體功率器件發展趨勢，針對半導體材料及功率器件設計的分析儀器。儀器采用了一體化集成設計，二...
TH512 半導體C-V特性分析儀參數測試儀 參考價：面議
TH512 半導體C-V特性分析儀參數測試儀是常州同惠電子根據當前半導體功率器件發展趨勢，針對半導體材料及功率器件設計的分析儀器。儀器采用了一體化集成設計，二極...
TH511半導體C-V特性分析儀參數測試儀 參考價：面議
TH511半導體C-V特性分析儀參數測試儀簡介：TH510系列半導體C-V特性分析儀是常州同惠電子根據當前半導體功率器件發展趨勢，針對半導體材料及功率器件設計的...
HIOKI日置 3506-10電容電阻測試儀測量儀 參考價：面議
HIOKI日置 3506-10電容電阻測試儀測量儀：對應1MHz測試, 低容量,高精度,高速測試C、(tan δ), Q測試，低電阻測量 測試源頻率：1kHz，...
日置C測試儀3504-60電容檢測測量儀器 參考價：面議
日置C測試儀3504-60電容檢測測量儀器：封裝機、分選機、電容器的合格與否的判斷和等級分類等C、D 2項目測試 能以恒定電壓測量大容量的多層陶瓷電容 靜電容量...
HIOKI C測試儀3504-50元器件電容檢測儀器 參考價：面議
HIOKI C測試儀3504-50元器件電容檢測儀器：封裝機、分選機、電容器的合格與否的判斷和等級分類等C、D 2項目測試 能以恒定電壓測量大容量的多層陶瓷電容...
HIOKI日置C測試儀電容測試設備 3504-40 參考價：面議
HIOKI日置C測試儀電容測試設備 3504-40：封裝機、分選機、電容器的合格與否的判斷和等級分類等C、D 2項目測試 能以恒定電壓測量大容量的多層陶瓷電容 ...
費思FTI5000系列FTI5010-10000保險絲測試儀 參考價：面議
費思FTI5000系列FTI5010-10000保險絲測試儀是專為保險絲、熔斷器等產品設計的專業測試設備，嚴格符合GB/T 9364系列、GB/T 31465....
費思FTI5000系列FTI5015-1000保險絲測試儀 參考價：面議
費思FTI5000系列FTI5015-1000保險絲測試儀是專為保險絲、熔斷器等產品設計的專業測試設備，嚴格符合GB/T 9364系列、GB/T 31465.1...
費思FTI5000系列FTI5015-200保險絲測試儀 參考價：面議
費思FTI5000系列FTI5015-200保險絲測試儀是專為保險絲、熔斷器等產品設計的專業測試設備，嚴格符合GB/T 9364系列、GB/T 31465.1-...
致茂Chroma Model11090-030射頻LCR表測試儀 參考價：面議
致茂Chroma Model11090-030射頻LCR表測試儀產品特色：●測試參數:Z,0z,Y, θy, R, X, G, B, Ls, Lp, Cs, C...
Tektronix泰克S530/S540 /S500參數測試系統 參考價：面議
Tektronix泰克S530/S540 /S500參數測試系統產品簡介：帶有 KTE 7 軟件的吉時利 S530 系列參數測試系統提供高速、靈活的配置，能夠隨...
吉時利Keithley4200A-SCS半導體參數分析儀 參考價：面議
吉時利Keithley4200A-SCS半導體參數分析儀（參數測試儀）加快各類材料、半導體器件和先進工藝的開發，完成制程控制、可靠性分析和故障分析。4200A-...
功率半導體參數測試系統 參考價：面議
LET-SP802功率半導體參數測試系統是一款測量與分析功率半導體器件靜態參數的專用儀器，為所有類型的功率半導體器件提供靜態參數測量解決方案。LET-SP802...
半導體動態參數測試系統 參考價：面議
半導體動態參數測試系統硬件優勢:1. 采用先發布的12 bit 示波器：正確反映波形的細節，并準確計算出參數2. 采用先發布的光隔離、高CMRR探頭系統，解決S...
半導體靜態參數測試系統 參考價：面議
LET-5000半導體靜態參數測試系統是一款測量與分析功率靜態參數的專用儀器，為所有類型的功率器件提供靜態參數測量解決方案。
IGCT自動測試系統 參考價：面議
IGCT自動測試系統核心是安規及導通性能測試的訂制化標準測試平臺，其核心是采用了各種儀器儀表（萬用表、內阻測試儀、安規測試儀、電源等）和繼電器板卡、配合測試機柜...
第三代功率半導體器件動態可靠性測試系統 參考價：面議
KC-3105 第三代功率半導體器件動態可靠性測試系統中可同時完成HTRB和DHTRB測試，整體架構模塊化，通訊協議、通訊接口等采用統一標準，便于后期擴展和維護...
功率半導體高精度靜態特性測試系統(實驗室) 參考價：面議
KC3110功率半導體高精度靜態特性測試系統(實驗室)，基于全新三代半SiC, GaN器件和模塊以及車規級模塊的新興要求而進行的一次高標準產品開發。本系統可以在...
功率半導體高精度靜態特性測試系統(生產端) 參考價：面議
KC3111功率半導體高精度靜態特性測試系統（生產端），基于全新三代半SiC, GaN器件和模塊以及車規級模塊的新興要求而進行的一次高標準產品開發。脈沖信號源輸...
功率半導體動態參數測試系統 參考價：面議
KC3120功率半導體動態參數測試系統可針對各類型 GaN、Si基及SiC基二極管、 MOSFET、IGBT 等分立器件的各項動態參數測試，如開通時間、關斷時間...
IOL間歇壽命試驗系統HK-IOL-16H 參考價：面議
測試各種封裝的MOSFET、IGBT、三極管、Diode（小電流器件）進行連續工作壽命和間歇工作壽命試驗。間歇工作壽命試驗利用芯片的反復開啟和關閉引起的反復高溫...
IGBT/SIC模塊功率循環試驗系統 參考價：面議
IGBT/SIC模塊功率循環試驗系統華科智源-功率循環老化設備主要是針對IGBT/SIC的封裝可靠性行進行實驗,通過控制實驗條件再現IGBT封裝的主要兩種失效方...
SIC碳化硅器件參數測試儀HUSTEC-3000 參考價：面議
SIC碳化硅器件參數測試儀HUSTEC-3000功能及主要參數： 適用碳化硅二極管、IGBT模塊\\MOS管等器件的時間參數測試。
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